Najwyższy czas podsumować tegoroczną warszawską edycję konferencji NIDays, czylinajbardziej prestiżowego i największego wydarzenia National Instruments w Polsce, organizowanego dla użytkowników firmowych technologii, inżynierów, integratorów systemów i menedżerów.
Kilkuset uczestników szczelnie wypełniło sale konferencyjne stołecznego hotelu Marriott, a także przestrzenie, gdzie znajdowały się niezwykle interesujące stoiska wystawiennicze. Wydarzenie zebrało w tym roku ok. trzydziestu wystawców reprezentujących różne branże przemysłu ? w tym motoryzację, energetykę, przemysł ciężki, elektronikę użytkową ? oraz instytuty zaangażowane w projekty badawcze.
W ramach programu merytorycznego NIDays zaplanowano pięć ścieżek tematycznych, podczas których eksperci reprezentujący przemysł oraz pracownicy akademiccy przedstawiali najciekawsze rozwiązania opracowane przy użyciu narzędzi do graficznego projektowania systemów. Inżynierowie z National Instruments, zarówno polscy, jak i zagraniczni, prezentowali najnowsze technologie z dziedziny pomiarów, zautomatyzowanych testów, wbudowanych systemów kontrolno-pomiarowych oraz aplikacji.
Charakter wydarzenia jest utrzymywany w jednakowej formie od wielu lat. Konferencja rozpoczyna się prezentacją z wyraźnie zaznaczonym motywem głównym, podczas której przedstawiane są najnowsze technologie oraz trendy na rynku testowo-pomiarowym. Przykłady przedstawionych w tym roku rozwiązań autorstwa National Instruments to m.in. WTS (Wireless Test System) ? system do zautomatyzowanych testów urządzeń komunikacji bezprzewodowej, w tym testów WLAN (802.11ac oraz wcześniejszych generacji), LTE-A (i wcześniejsze) oraz GNSS; wbudowany kontroler FlexRIO do przetwarzania sygnałów wymagających olbrzymiej mocy obliczeniowej; najnowsza wersja środowiska LabVIEW ze wsparciem dla akwizycji danych poprzez port USB 3.0 oraz czterordzeniowe kontrolery przemysłowe z otwartym firmwarem ? dla krótszych czasów reakcji oraz wyrafinowanych implementacji systemów kontrolno-pomiarowych.
Przewidziano dwa główne bloki tematyczne: You & NI Will Create the Internet of Things, Today ? National Instruments oraz Shaping Tomorrow ? National Instruments. W ich ramach, po prezentacjach dla wszystkich uczestników, odbywał się cały szereg prowadzonych równolegle wykładów i warsztatów, omawiających idee oraz poszczególne rozwiązania. Warsztaty obejmowały trzy obszary: programowalne sterowniki cRIO, akwizycję danych z użyciem LabVIEW, a także projektowanie szybkich protokołów komunikacyjnych z wykorzystaniem USRP RIO oraz LabVIEW Communication. Inżynierowie mogli spróbować swych sił przy praktycznej implementacji systemów akwizycji danych, wbudowanych rozwiązań sterowania i nadzorowania oraz przy narzędziach związanych z radiem definiowanym programowo. Odbyły się również sesje warsztatowe dla instruktorów LabVIEW Academy.
LabVIEW było jednym z wiodących tematów poruszanych podczas konferencji. Łączyło się to m.in. z wprowadzoną w tym roku na rynek wersją 2015 tego oprogramowania. Została uzupełniona o poprawki zwiększające szybkość, skróty oraz narzędzia do debugowania umożliwiające łatwiejszą interakcję z tworzonymi systemami. Dzięki uproszczeniu i standaryzacji procesów inżynierskich dla całej platformy oraz możliwościom ponownego użycia kodu, interakcja ze sprzętem jest teraz jeszcze prostsza niż dotychczas.
Każdy uczestnik NIDays miał szansę sprawdzenia swojej wiedzy o środowisku LabVIEW podczas jednogodzinnego egzaminu CLAD ? (Certified LabVIEW Associate Developer ? oznaczający pierwszy stopień certyfikacji, potwierdzający umiejętność programowania w LabVIEW). Dla wszystkich tych, którzy mają już powyższy certyfikat, zaoferowano udział w technicznych zajęciach przedstawiających typowe architektury programistyczne oraz wyzwania, przed którymi mogą stanąć podczas drugiego stopnia certyfikacji (Certified LabVIEW Developer ? CLD). Zajęcia te okazują się być bardzo popularne wśród uczestników konferencji, co dalej potwierdza, iż LabVIEW jest de facto standardem dla zastosowań testowo-pomiarowych.
Warto dodać, że w trakcie pracy nad organizacją wydarzenia ogłoszono konkurs na najlepszy artykuł techniczny, w którym użytkownicy rozwiązań autorstwa National Instruments mogli nadsyłać dokumenty opisujące ich systemy bądź wyniki prac badawczych. Podczas konferencji wybrane z regionu zgłoszenia były przedstawione przez ich twórców ? widownia miała zatem okazję do poznania zastosowań narzędzi NI w rzeczywistych rozwiązaniach.
Źródło: National Instruments/materiały własne redakcji ?Control Engineering Polska?
