LJ-G5000 - laserowy profilograf 2D

-- wtorek, 07 luty 2012 08:45

Wyposażony w unikatową funkcję kompensacji odblasków E3 CMOS. Czujnik ten posiada 300 razy większy i dynamiczny zakres pomiarowy niż inne dostępne użądzenia tego typu na rynku. Oferuje on wydajność, która do tej pory był niemożliwa do osiągnięcia w trakcie badania złożonych powierzchni takich jak guma, metal czy połączenie tych dwóch materiałów. Jego parametry pracy również są wyjątkowe: zasięg do 200 mm, powtarzalność 1µm oraz częstotliwość próbkowania 3, 8 ms.
 
LJ-G5000 to laserowy profilograf 2D umożliwiający szybsze pomiary na liniach produkcyjnych. Urządzenie składa się z kontrolera, głowic pomiarowych oraz monitora. Możliwe jest połączenie dwóch głowic do jednego kontrolera i dokonywanie 8 jednoczesnych pomiarów na utworzonym profilu pomiarowym. Czujnik obrazu E3 CMOS oferuje 300 razy większy dynamiczny zakres pomiarowy niż tradycyjne czujniki. LJ-G5000 umożliwia stabilne pomiary zarówno na  materiałach słabo odbijających światło (np. czarna guma) jak również na obiektach silnie refleksyjnych (np. wypolerowane metale).
 
System Quatro-link umożliwia jednoczesne prowadzenie różnych procesów obliczeniowych, takich jak: detekcja obecności obiektu, profilowanie, dokonywanie pomiarów i wyświetlanie zmierzonych wartości. Proces ten wykorzystuje nowy procesor pozwalający na próbkowanie z prędkością 3, 8 ms i dokonywanie pomiarów bezpośrednio na linii produkcyjnej. Dzięki wielu funkcjom kontrolnym LJ-G5000 umożliwia m.in. pomiar różnic wysokości, szerokości, kątów i przekrojów. Okno kontrolno-pomiarowe automatycznie dostosowuje swoje położenie w stosunku do poruszającego się obiektu. Bez względu na warunki oświetlenia i kolory przedmiotów LJ-G5000 to rozwiązanie posiadające wiele zalet w porównaniu do standardowych systemów wizyjnych.
 
LJ-G5000 to niezawodne urządzenie pozwalające na zastosowania, których wcześniej nie można było realizować, takie jak: pomiary uszczelek, uszczelniaczy, wytłoczeń, spawów, czy badanie powierzchni przedmiotów (w tym powierzchni zaokrąglonych lub posiadających kilka kątów odbicia) itp.
 
Czujnik E3 CMOS to bardziej zaawansowane technologicznie rozwiązanie w stosunku do tradycyjnych czujników CMOS. Laserowy profilograf LJ-G5000 wykorzystuje zasadę triangulacji - określa wysokość punktu w zależności od pozycji odbitej wiązki padającej na matrycę. Sama płaska wiązka jest wytwarzana przez zespół soczewek. Głowica czujnika nie posiada zużywających się ruchomych części jak również jej zwarta i kompaktowa obudowa przyczynia się znacząco do wydłużenia cyklu życia produktu.
 
Rozważając odbicia na powierzchni cylindrycznej jasne jest, że załamanie światła na górze obiektu będzie większe niż na krawędziach. Tradycyjne czujniki ( CCD lub CMOS) nie są w stanie znaleźć akceptowalnego kompromisu - albo ilość otrzymanego światła na górze obiektu jest właściwa, ale wtedy załamanie na krawędziach będzie niewystarczające albo ilość otrzymanego światła na krawędziach jest właściwa, ale odbicie na górnej części obiektu jest zbyt duże i następuje nasycenie matrycy. W tradycyjnych czujnikach CCD lub CMOS rozpiętość dynamicznego zakresu pomiarowego jest mała (zakres detekcji między punktem określanym jako zbyt ciemny a punktem zbyt jasnym). W tradycyjnych czujnikach typowe rozwiązanie polega na uśrednianiu pomiarów w celu kompensacji braku stabilności. Technika ta oprócz większej zawodności wymaga również 15-krotnie dłuższego czasu próbkowania.
 
Technologia E3 CMOS (ang. Enhanced Eye Emulation CMOS) odtwarza zdolność adaptacji ludzkiego oka do różnych warunków. Cyfrowa rekonstrukcja profilu badanego obiektu jest całkowita pomimo występowania obszarów zbyt jasnych lub zbyt ciemnych. Zostały zwiększone możliwości dokonywania pomiarów oraz ich stabilność. Wydajność E3 CMOS jest zwiększona dzięki funkcji MFL (ang. Multi Flexible Logic), która dostosowuje czułość matrycy CMOS, intensywność lasera oraz czas ekspozycji CMOS ( im ciemniejszy jest obiekt tym dłuższy jest czas naświetlania matrycy, większa czułość oraz moc lasera). Dzięki MFL zapewniona jest stabilność pomiarów niezależnie od rodzaju obiektu (plastikowego, gumowego czy metalowego) i jego koloru.